Search for All you need 您需要查找什么 ?

颖崴科技股份有限公司-WLCSP探针卡

晶圆测试

WLCSP探针卡

WLCSP弹簧探针卡专为高性能晶圆测试需求所设计,弹簧探针具有短电气长度、高耐电流、易维护更换等优势,并且可透过精密的手测盖设计,针对单一晶片进行功能确认和侦错,在量产前实现 IC 功能的最佳化,目前可达测试最小间距为0.12mm。

同轴式弹簧针测试座
同轴式弹簧针测试座
同轴式弹簧针测试座
同轴式弹簧针测试座

详细资讯

规格

Pitch 500 ~ 120um
Tip Shape Crown / Flat / Point
C.C.C (A) 2.5 ~ 0.5A
Force 25 ~ 5g

我们的网站会透过浏览器Cookies提供您客制化操作体验、社群媒体功能,并会透过其分析网站流量等统计数据,若继续使用本网站,代表您同意我们使用浏览器Cookies为您提供服务,了解更多请见隐私权政策。如果你不同意的话,请停止使用我们的服务。